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X射线光谱仪的射散原理及故障诊断

作者: 捷扬光电 时间:2018-11-16 来源:未知
摘要:X射线光谱仪除光电吸收外,人射光子还可与原子碰撞,在各个方向上发生散射。x射线与物质的散射是由于x射线光谱仪与电子的相互作用而产生。散射作用分为两种,即相干散射和非相...

光谱仪图片
        X射线光谱仪除光电吸收外,人射光子还可与原子碰撞,在各个方向上发生散射。x射线与物质的散射是由于x射线光谱仪与电子的相互作用而产生。散射作用分为两种,即相干散射和非相干散射。

       如果被散射光子能量与人射光子能量相同,则称为相干散射或弹性散射,相干散射又称为瑞利(Rayleigh)散射,没有能量损失.如果出现能量变化或损失,则为非相千散射,也称为康普顿(Compton)散射.相干散射与光干涉现象相互作用的结果可产生x射线光谱仪衍射.x射线光谱仪衍射图与晶格排列等密切相关,可被用于研究物质结构。

  人射x射线光子与靶元素的内层电子碰撞,如果光子能量保持不变而只是改变了出射方向,这时的散射作用为相千散射,从能谱图上看,相干散射峰对应于人射光子能量,相干散射由于受物质表面形状等影响较小,常被用来进行形态校正,以在一定程度上补偿形态、粒度等变化对分析结果的影响。

X射线荧光光谱仪?

X射线荧光光谱仪具有重现性好,测量速度快,灵敏度高的特点。能分析B(5)~U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片,液体等,分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析,并能给出半定量结果,结果准确度对某些样品可以接近定量水平,分析时间短。薄膜分析软件FP-MULT1能作镀层分析,薄膜分析。测量样品的大尺寸要求为直径51mm,高40mm。


X射线荧光光谱仪常见故障的诊断方法?

 X射线荧光光谱仪是扫描型的仪器,当仪器运行时,许多部件在动作,如测角仪、晶体转换器、准直器等,经常动作的部件容易出现问题,另外控制

和探测各个部件动作的电子线路板也可能出现问题。
 新型的X射线荧光光谱仪都装有故障诊断软件,分布于仪器各个部位的传感器将仪器的状态信号传输到计算机,供仪器操作者和维修工程师判断仪器是否正常,找到产生故障的部位。但是有些在测量过程中出现的问题靠诊断软件是发现不了的,而且诊断软件仅仅提示产生了故障,要找到产生故障的原因,要求维修人员对仪器的结构比较熟悉,且具有一定的维修经验。本文介绍几种常见故障的产生原因及处理方法。

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